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主营产品：

激光测距仪，音频分析仪，数字照度计，红外热像仪，粒子计数器，射线检测仪，汽车尾气分析仪，氧气检测仪，二氧化碳检测仪，可燃气体检测仪，漏电检测仪，烟气分析仪，气体检测仪，接地电阻测试仪，电能质量分析仪，电池测试仪，可编程电源，雷达测速仪，管线探测仪，金属探测仪，水质分析仪，电导率仪，手持示波器，夜视仪，酶标仪，色差仪，场强仪，风速仪，BOD测试仪，电缆故障测试仪，浊度计，COD测试仪，酒精测试仪，工业内窥镜，功率计，VOC变送器，烟道气检测仪，环境综合测试仪，扭矩扳子检定仪，电源供应器
AT771电感测试仪
  • AT771电感测试仪
  • AT771电感测试仪AT771提供100Hz、120Hz和1kHz测试频率，内建五档比较器，使其能完全满足一般生产现场的使用。可选RS232C接口，与计算机通讯完成所有仪器功能
AT770电感测试仪
  • AT770电感测试仪
  • AT770电感测试仪AT770派生于全能型仪器AT810，使其具有优异性能。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足一般生产现场的使用。内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能
AT776精密电感测试仪
  • AT776精密电感测试仪
  • AT776精密电感测试仪AT776派生于全能型仪器AT817A，使其具有优异性能。内建50Hz~100kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足多数生产现场和实验场合的使用。内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能。
AT611电容测试仪
  • AT611电容测试仪
  • AT611电容测试仪AT611提供100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，五档分选功能。可选RS232C接口，与计算机通讯，完成数据采集功能
AT610电容测试仪
  • AT610电容测试仪
  • AT610电容测试仪AT610采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能电容测试仪。直接派生于全能型仪器AT810，使其具有优异性能。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足一般生产现场的使用。内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功能
AT617精密电容测试仪
  • AT617精密电容测试仪
  • AT617精密电容测试仪AT617采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能精密电容测试仪。直接派生于全能型仪器AT817A，使其具有优异性能。内建50Hz~100kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，0.05%的准确度足以满足多数生产现场和实验场合的使用。内置RS232C接口，兼容SCPI编程语言，很容易与计算机通讯，完成所有仪器功...
AT810 LCR数字电桥
  • AT810 LCR数字电桥
  • AT810 LCR数字电桥AT810采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT810仅需微型机箱即可容纳
AT817 LCR数字电桥
  • AT817 LCR数字电桥
  • AT817 LCR数字电桥AT817采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT817仅需微型机箱即可容纳
日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3522-50 LCR测试仪 LCR 3522-50LCR测试仪使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗，以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长 LCR 3522-50LCR测试仪具有低价及更好的功用和性能
日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 精巧，非常专业，5ms快速测量LCR 高精度： ±0.08% 内置比较器
日本日置HIOKI 3535 LCR测试仪
日本日置HIOKI 3501电容值测试仪/电容表
  • 日本日置HIOKI 3501电容值测试仪/电容表
  • 日本日置HIOKI 3501电容值测试仪/电容表单按键操作 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 与一般测量功能不同，它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
电容测试仪日本日置 HIOKI 3504-10
  • 电容测试仪日本日置 HIOKI 3504-10
  • 电容测试仪日本日置 HIOKI 3504-10最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
电容测试仪 日本日置HIOKI 3504
  • 电容测试仪 日本日置HIOKI 3504
  • 电容测试仪 日本日置HIOKI 3504最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。
C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3505
  • C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3505
  • C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3505对应1kHz, 100kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505 低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3506
  • C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3506
  • C测试仪/电容测试仪日本日置HIOKI 3506对应1kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506和HIOKI 3506相比少了100kHz的测量频率,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
日本日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪
  • 日本日置HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来。